| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | D |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria de los datos | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | Dispositivo D del impacto |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | D |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | D |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria de los datos | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | Dispositivo D del impacto |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| color | Negro |
|---|---|
| LCD | matriz 128×64 con el contraluz |
| Escalas de la dureza | ALTO VOLTAJE, HB, HRC, HRB, HRA, HS |
| Memoria | datos de 600 grupos |
| Salida de datos | Software de la PC disponible e interfaz del USB 2,0 |
| Escalas de la dureza | ALTO VOLTAJE, HB, HRC HRB, HRA, HS) |
|---|---|
| Exhibición | Exhibición del LCD de 128×32matrix |
| Memoria | 1000 sistemas de datos y de tiempo |
| Batería | Batería li-ion recargable sin memorability |
| Poder de batería | Período de trabajo continuo del poder: Aproximadamente 100 h |
| Color | Gris |
|---|---|
| Principio | Método de UCI (impedancia ultrasónica del contacto) |
| Estándar | 、 ASTM A1038-2005 DE JBT 9377-2010 |
| Calibración | Calibración de Slef |
| Memoria | 50 sistemas de almacenamiento de datos -- los datos incluyen la información del tiempo |
| Detalles de empaquetado | paquete estándar de la exportación |
|---|---|
| Tiempo de entrega | 1-4days |
| Condiciones de pago | T / T, Paypal, Western Union |
| Capacidad de la fuente | 500pcs por mes |
| Lugar de origen | pekín |
| Detalles de empaquetado | paquete estándar de la exportación |
|---|---|
| Tiempo de entrega | 1-4days |
| Condiciones de pago | T / T, Paypal, Western Union |
| Capacidad de la fuente | 500pcs por mes |
| Lugar de origen | pekín |
