Descripción:
Con las puntas de prueba integradas o separadas
Función: TG-2000F (substrato ferroso) TG-2000N (substrato no ferroso) TG-2000FN (2 en 1, tipo de F y del N-F)
Principio de funcionamiento: inducción magnética/corriente de Foucault (F/NF)
Gama de medición: 0-2000um/0-50mil
Resolución; 0.1/1
Exactitud: ±1-3%n o ±2.5um
Área de medición mínima: 6m m
Grueso mínimo de la muestra: 0.3m m
Indicador de la batería: indicador de batería bajo
Imperial métrico: convertible
Fuente de alimentación: batería de 4x1.5V AAA (UM-4)
Poder auto apagado
Condiciones de funcionamiento: 0-+45℃ (32℉-104℉), ≤90%RH
Dimensiones: 126x65x27m m
peso: 81g (no incluyendo la batería)
Accesorios opcionales: la otra gama 0-200um a 15000um
Uso:
1. TG-2000F puede medir el grueso de las capas de capa no magnéticas (aluminio, cromo, cobre, ename1, de goma, pintura) en el substrato magnético (acero, hierro, aleación y el acero inoxidable magnético)
2. TG-2000N puede medir el grueso de las capas de capa no-conductoras (ename1, de goma, pintan, desaparecen, capa anódica plástica del óxido) cubiertas en el substrato no ferroso (aluminio, latón, cinc, lata y el acero inoxidable no magnético)
Entrega estándar de TG2000FN:
Unidad principal (2000um) 1
Tipo punta de prueba de F 1
Tipo punta de prueba de N 1
Sistema de la base de la calibración de F 1
Sistema de la base de la calibración de N 1
Sistema de la hoja de la calibración 1set (4 hojas)
Caso que lleva 1
Manual de la instrucción 1
Accesorios opcionales
Cable y software para RS-232C
Gama de prueba modificada para requisitos particulares para arriba a 18000 micrones
